NCM三元电芯循环衰减过快诊断

输入化成/分容数据、电压曲线、DCR与拆解现象，判定析锂程度与发生工序（化成/老化/存储），定位电解液、负极、工艺窗口与温度根因，输出风险等级与整改建议。

输入胀气形貌、产气成分（游离HF/产气GC）、化成与存储数据，定位电解液/水分/SEI异常根因，输出隔离与整改动作。

输入K值/自放电数据、电压降曲线与产线工序，定位微短路、金属异物、电解液与来料根因，输出全工序排查清单。

输入低温放电/倍率数据与DCR，定位电解液电导、负极嵌锂与SEI根因，输出低温配方与工艺改善建议。

输入电芯基础信息、电压测试数据、制程回溯、拆解现象，针对零电压（0V）、低电压（低于正常范围）、电压测不出、电压异常偏低等失效模式，区分内部短路（硬短路/微短路）、过放导致铜集流体溶解、连接断路、测试接触不良、电解液干涸、隔膜失效等根因，输出失效等级判定、根因排序、验证试验与改善方案。

输入电芯体系、设计容量、实测容量、充放电曲线、内阻、拆解现象、制程回溯，针对容量不足、容量跳水、首次效率低、不可逆容量损失大、循环容量骤降等失效模式，区分活性物质不足、电解液浸润不良、SEI成膜消耗、正极材料失效、负极析锂、微短路、测试条件不当等根因，输出根因排序、验证试验与改善方案。